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致茂測試系統(tǒng)
7505-K007Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學測量系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介
Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學測量系統(tǒng)適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測使用3D光學探頭,進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析使用陶瓷吸附平臺,可將待測物吸附於平臺上使表面平整,亦不對待測物造成皺褶或破損3D厚度量測範圍大可量測透明材質(zhì)高靜態(tài)量測重複精度高動態(tài)量測重複精度具備腳本功能可進行自動量測
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子,交通 |
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Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學測量系統(tǒng)
主要特色:
Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學檢測系統(tǒng)主要整合3D光學探頭,進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析,適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測。同時配備陶瓷吸附平臺,可將待測物吸附於平臺上使表面平整,亦不對待測物造成皺褶或破損,3D厚度量測範圍大、設備靜態(tài)重複精度高與設備動態(tài)重複精度高,具備Recipe功能可進行自動量測,此外系統(tǒng)亦提供檢測數(shù)據(jù)資料的存檔功能,供後續(xù)操作人員處理分析使用。
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| Model | 敘述 | 詢價 |
|---|---|---|
| 7505-K007 | 薄膜厚度自動光學檢測系統(tǒng) |
Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學測量系統(tǒng)